Rentgenowska tomografia komputerowa (CT) odgrywa niezwykle istotną rolę w dziedzinie naukowej i badawczej, umożliwiając nieinwazyjne badanie wewnętrznej struktury próbek bez ich niszczenia. To narzędzie, które rewolucjonizuje sposób, w jaki badamy skamieniałości, starożytne artefakty, czy nawet produkty przemysłowe. Wraz z postępem technologicznym, CT coraz częściej staje się niezbędnym elementem w fabrykach, gdzie pełni kluczową rolę w kontroli jakości oraz pomiarach metrologicznych.

XT H 225: Zaawansowany system rentgenowski do szczegółowej kontroli jakości

XT H 225 to wszechstronny system rentgenowski, który umożliwia szczegółowe przechwytywanie i pomiar wewnętrznych cech komponentów i zespołów. Oferuje on źródło promieniowania rentgenowskiego z mikroogniskowaniem, zapewniające wysoką rozdzielczość obrazu oraz możliwość kontrolowania małych i średnich części.

Główne cechy:

• Wszechstronność: XT H 225 umożliwia kontrolę części z tworzyw sztucznych, małych odlewów, złożonych mechanizmów oraz badanie materiałów i próbek naturalnych.
• Łatwa obsługa: System został zaprojektowany tak, aby użytkownicy mogli szybko nauczyć się z niego korzystać. Kreator CT prowadzi operatorów przez proces akwizycji danych, a konfigurowalne makra automatyzują przepływ pracy pomiarowej.
• Elastyczność w CT: System można skonfigurować z różnymi płaskimi panelami lub konfiguracją źródła, aby dostosować rozdzielczość do potrzeb próbki. Możliwe jest uzyskanie zarówno pełnej części w zgrubnej rozdzielczości, jak i wysokiej rozdzielczości w pożądanym obszarze zainteresowania.
• Niski koszt utrzymania: Dzięki wykorzystaniu źródła promieniowania rentgenowskiego z otwartą tubą, system XT H 225 gwarantuje niższy koszt utrzymania. Otwarta lampa rentgenowska umożliwia lokalną konserwację wewnętrznych elementów lampy, co eliminuje konieczność jej całkowitej wymiany.

Wszystkie systemy Nikon Metrology CT umożliwiają:

• Weryfikację złożonych struktur wewnętrznych
• Izolowanie i sprawdzanie komponentów
• Pomiar wymiarów wewnętrznych bez konieczności rozcinania próbki
• Automatyczne wykrywanie i pomiar wewnętrznych pustek/objętości
• Łatwe ujawnianie powierzchni wewnętrznych i zewnętrznych
• Skrócenie całkowitego czasu kontroli
• Zmniejszenie liczby iteracji w celu dostrojenia (wstępnych) parametrów produkcji

XT H 225 ST 2x: Zaawansowany system rentgenowski do precyzyjnej kontroli jakości

XT H 225 ST 2x to system rentgenowski, który doskonale sprawdza się w szerokim zakresie materiałów i rozmiarów próbek. Dzięki możliwości konfiguracji z różnymi płaskimi detektorami panelowymi o rozdzielczości do 2 880 x 2 880 pikseli o wielkości 150 μm, system można idealnie dostosować do potrzeb użytkownika.

Główne cechy:

• Dostosowanie do różnych aplikacji: System jest elastycznym narzędziem, które doskonale sprawdzi się w laboratoriach kontroli jakości, zakładach produkcyjnych, działach badań i rozwoju oraz w środowiskach akademickich.
• Wyjątkowa produktywność: Funkcja Auto.Filament Control inteligentnie zarządza źródłem promieniowania rentgenowskiego, podwajając żywotność żarnika. Dzięki temu system jest dostępny częściej, co zwiększa produktywność.
• Zmotoryzowany czujnik FID: Zmotoryzowana regulacja FID (Focus to Imager Distance) umożliwia użytkownikowi łatwą zmianę odległości między źródłem promieniowania rentgenowskiego a detektorem. Krótszy FID skraca czas skanowania lub poprawia jakość obrazu poprzez zwiększenie stosunku sygnału do szumu.
• Nieprzeciętna elastyczność: Dzięki czterem głowicom rentgenowskim system XT H 225 ST 2x oferuje wyjątkową elastyczność. Wszystkie cele mogą być wymieniane przez użytkownika szybko i bez wysiłku, co eliminuje potrzebę zakupu i konserwacji drugiej lampy źródłowej i akcesoriów.

XT H 225 ST 2x to niezawodne narzędzie, które zapewnia precyzyjną kontrolę jakości oraz doskonałą jakość obrazu, umożliwiając efektywną pracę w różnych zastosowaniach przemysłowych i badawczych

MCT225: Tomografia komputerowa o metrologicznej precyzji

Metrologiczna tomografia komputerowa umożliwia kontrolę wymiarową bez konieczności niszczenia części, co sprawia, że ​​jest niezwykle atrakcyjna w przemyśle. MCT225 to system, który został wstępnie skalibrowany przy użyciu standardów dokładności zgodnych z wytycznymi VDI/VDE 2630 dla tomografii komputerowej w pomiarach wymiarowych.

Główne cechy:

• Wysoka dokładność: MCT225 jest kalibrowany zgodnie z wytycznymi VDI/VDE 2630 i standardami dokładności uznawanymi przez National Physical Laboratory (NPL) oraz brytyjski National Metrology Institute (NMI), co gwarantuje wysoką dokładność pomiarów bez konieczności stosowania pomiarów referencyjnych.
• Długoterminowa stabilność: System MCT225 zapewnia nie tylko imponującą specyfikację dokładności bezwzględnej 9 μm+L(mm)/50 μm, ale również długoterminową stabilność sprzętu, co umożliwia utrzymanie wysokiej jakości pomiarów przez długi czas.

Dzięki MCT225 można osiągnąć MPE(SD) na poziomie 9 μm+L(mm)/50 μm, co czyni go idealnym narzędziem do precyzyjnej kontroli wymiarów w różnych zastosowaniach przemysłowych.