Seria XT V
Seria XT V firmy Nikon obejmuje światowej klasy systemy rentgenowskie i tomograficzne do nieniszczącej kontroli komponentów elektronicznych (PCB, BGA, chipy i wiele innych).
Specyfikacja techniczna
System kontroli rentgenowskiej XT V - Elastyczne, Precyzyjne, Ekonomiczne
W odpowiedzi na rosnące zapotrzebowanie na elastyczne, wysokorozdzielcze i ekonomiczne systemy kontroli rentgenowskiej, Nikon Metrology prezentuje serię XT V. Te innowacyjne systemy umożliwiają nieniszczącą kontrolę zespołów płytek drukowanych, komponentów elektronicznych i urządzeń elektrycznych, przyspieszając wydajność i poprawiając jakość produktów przy jednoczesnym obniżeniu kosztów.
XT V 160 - Kontrola rentgenowska klasy premium:
Model XT V 160 to flagowy system kontroli rentgenowskiej, przeznaczony głównie do zastosowań klasy premium na liniach produkcyjnych oraz w laboratoriach analizy uszkodzeń. Posiada szereg zaawansowanych funkcji, które sprawiają, że jest doskonałym narzędziem do precyzyjnej inspekcji elektroniki.
Jedną z kluczowych cech XT V 160 jest opatentowane źródło mikroogniskowania NanoTech o mocy 160 kV/20 W, które zapewnia wyjątkową jakość obrazów oraz możliwość rozpoznawania nawet najmniejszych szczegółów. Dodatkowo, model ten wyposażony jest w 5-osiowy manipulator, co umożliwia dokładne pozycjonowanie próbek oraz szeroki zakres ruchu podczas kontroli.
XT V 160 oferuje również możliwość obrazowania w czasie rzeczywistym lub zautomatyzowanej inspekcji, co pozwala użytkownikom dostosować proces kontroli do swoich indywidualnych potrzeb. Dzięki temu system ten zapewnia wysoką wydajność i skuteczność, przyczyniając się do poprawy jakości produkcji oraz identyfikacji potencjalnych wad.
XT V 130C - Ekonomiczna kontrola rentgenowska:
XT V 130C to bardziej ekonomiczna opcja spośród serii XT V, jednak nadal oferuje wysoką jakość obrazów oraz elastyczność w kontroli elektroniki i półprzewodników. Jest to idealne rozwiązanie dla tych, którzy poszukują efektywnego narzędzia do nieniszczącej inspekcji, ale z ograniczonym budżetem.
Główną cechą XT V 130C jest opatentowane źródło mikroogniskowania o mocy 130 kV/10 W, które zapewnia precyzyjne obrazy o wysokiej rozdzielczości. Dodatkowo, system ten posiada płaski detektor o rozdzielczości 1 megapiksela, co umożliwia dokładną analizę nawet najmniejszych detali.
XT V 130C skupia się głównie na obrazowaniu w czasie rzeczywistym, co czyni go idealnym narzędziem do szybkiej kontroli elektronicznych komponentów oraz identyfikacji ewentualnych wad na linii produkcyjnej. Dzięki swojej elastyczności oraz łatwej obsłudze, model ten spełnia potrzeby zarówno producentów, jak i badaczy, zapewniając precyzyjną kontrolę i poprawę jakości produktów.
Oba modele XT V są wyposażone w zaawansowane oprogramowanie Inspect-X, które umożliwia interaktywną kontrolę w czasie rzeczywistym oraz generowanie szczegółowych raportów. Dzięki gotowości do zastosowań w tomografii komputerowej, możliwości automatycznych inspekcji oraz bezpiecznej i intuicyjnej obsłudze, seria XT V stanowi kompleksowe rozwiązanie dla producentów i badaczy, którzy poszukują wydajnych, precyzyjnych i wszechstronnych systemów kontroli rentgenowskiej do zastosowań w elektronice oraz innych dziedzinach wymagających dokładnej inspekcji.
Kluczowe korzyści:
Niski koszt posiadania:
Otwarta konstrukcja tuby z wymienialnymi żarnikami oraz zintegrowany generator napięcia eliminują potrzebę stosowania kosztownych kabli wysokiego napięcia, co przekłada się na niższe koszty konserwacji i wyższą niezawodność.
Wysoka precyzja:
Systemy XT V są wyposażone w bardzo dokładny regulator próbki z opcjonalną precyzyjną osią obrotową CT, co umożliwia dokładną kontrolę w trakcie procesu kontroli.
Intuicyjna obsługa i bezpieczeństwo
Systemy XT V są łatwe w obsłudze dzięki intuicyjnej nawigacji za pomocą joysticka, dużemu wyświetlaczowi oraz oprogramowaniu Inspect-X. Ponadto zapewniają one pełne bezpieczeństwo, spełniając normy bezpieczeństwa radiologicznego.
Wysokiej jakości obrazy i skupienie na produktywności
Dzięki zastosowaniu własnych źródeł mikroogniskowania oraz wysokiej rozdzielczości detektorów, systemy XT V zapewniają wysokiej jakości obrazy. Dodatkowo, umożliwiają szybką automatyczną kontrolę komponentów z natychmiastową analizą i raportowaniem, co przyczynia się do zwiększenia wydajności produkcji.
Automatyczne inspekcje i gotowość do tomografii komputerowej
Systemy XT V umożliwiają automatyczną kontrolę oraz analizę całych płyt lub wielu komponentów, co znacznie zwiększa efektywność procesu kontroli. Ponadto, są one gotowe do tomografii komputerowej, umożliwiając pełny widok 3D struktury wewnętrznej.